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超細(xì)粉體的各種粒度分析方法對(duì)比及優(yōu)缺點(diǎn)介紹

   2017-08-16 中國(guó)粉體技術(shù)網(wǎng)3950
核心提示:粒度是粉體物料的重要特性之一,在粉碎工程的研究以及粉體產(chǎn)品的生產(chǎn)中,常常用到諸如物料的平均粒度、粒度組成和粒度分布等數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)就是通過(guò)各種粒度測(cè)定方法得到的。
 超細(xì)粉體的各種粒度分析方法對(duì)比及優(yōu)缺點(diǎn)介紹

 

粒度是粉體物料的重要特性之一,在粉碎工程的研究以及粉體產(chǎn)品的生產(chǎn)中,常常用到諸如物料的平均粒度、粒度組成和粒度分布等數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)就是通過(guò)各種粒度測(cè)定方法得到的。
 

(1) 篩分分析方法
 

最簡(jiǎn)單的也是應(yīng)用最早的粒度分析方法是篩分法。但是,由于現(xiàn)今的標(biāo)準(zhǔn)篩(如泰勒標(biāo)準(zhǔn)篩)最細(xì)一般只到400目(相當(dāng)于38μm),因此,對(duì)于小于10μm的超細(xì)粉體來(lái)說(shuō),不可能用標(biāo)準(zhǔn)篩進(jìn)行粒度分析和檢測(cè)。雖然新發(fā)展的電沉積篩網(wǎng)可以篩分小至5μm的粉體物料,但這種篩分技術(shù)由于篩分時(shí)間長(zhǎng)和經(jīng)常發(fā)生堵塞,很少在分析中使用。
 

篩分分析是利用篩孔大小不同的一套篩子進(jìn)行粒度分級(jí)。對(duì)于粒度小于100mm而大于0.038mm的松散物料,一般用篩分法測(cè)定其粒度組成和粒度分布。
 

篩分分析采用的套篩一般有兩種:一種為非標(biāo)準(zhǔn)篩,實(shí)驗(yàn)室可以自己制造,用于篩分粗粒物料。篩孔大小一般為150、120、100、80、70、50、25、15、12、6、3、2、1mm等,根據(jù)需要確定。另一種為標(biāo)準(zhǔn)套篩,用于篩分細(xì)粒物料,標(biāo)準(zhǔn)套篩是由一套篩孔大小有一定比例的、篩孔寬度和篩絲直徑都是按標(biāo)準(zhǔn)制造的篩子組。上層篩子的篩孔大,下層篩子的篩孔小,另外還有一個(gè)上蓋(防止試樣在篩分的過(guò)程中損失)和篩底(用來(lái)直接接取最低層篩子的篩下產(chǎn)物)。
 

將標(biāo)準(zhǔn)篩按篩孔由大到小,從上到下排列起來(lái),各個(gè)篩子所處的層位叫篩序;在疊好的篩序中,每?jī)蓚€(gè)相鄰的篩孔尺寸之比叫篩比。有些標(biāo)準(zhǔn)篩有一個(gè)作為基準(zhǔn)的篩子叫基篩,如泰勒標(biāo)準(zhǔn)篩以200目篩子作為基篩。表1所列為幾種常見(jiàn)的標(biāo)準(zhǔn)篩。
 

粒度范圍為6mm至0.038mm的物料的篩分分析,常用實(shí)驗(yàn)室標(biāo)準(zhǔn)套篩進(jìn)行,可以用干法,也可以用濕法。如果對(duì)篩析的精確度要求不甚嚴(yán)格,通常直接進(jìn)行干法篩析。但如果試樣含水、含泥較多,物料互相粘結(jié)時(shí),應(yīng)采用干濕聯(lián)合篩析法,篩析得到的結(jié)果才比較精確。
 

 常見(jiàn)標(biāo)準(zhǔn)篩

泰勒標(biāo)準(zhǔn)篩
英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)篩
德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)篩
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)篩
日本標(biāo)準(zhǔn)篩
網(wǎng)目
網(wǎng)目
網(wǎng)目
網(wǎng)目
孔/英寸
mm
孔/英寸
mm
孔/英寸
mm
mm
孔/英寸
mm
2.5
7.925
8
3
6.68
6.3
3.5
5.691
3.5
5.660
4
4.699
5
4.2
4.760
5
3.962
5
3.34
4
5
4.000
6
3.327
6
2.81
3.35
6
3.360
7
2.794
7
2.41
2.8
7
2.830
8
2.262
8
2.05
2
8
2.380
9
1.981
1.6
9.2
2.000
10
1.651
10
1.67
4
1.5
1.4
10.5
1.680
12
1.397
12
1.40
5
1.2
1.18
12
1.410
14
1.168
14
1.20
6
1.02
1
14
1.190
16
0.991
16
1.00
0.8
16
1.000
20
0.833
18
0.85
0.71
20
0.840
24
0.701
22
0.70
8
0.75
0.6
24
0.710
28
0.589
25
0.60
10
0.60
0.5
28
0.590
32
0.495
30
0.50
11
0.54
0.4
32
0.500
35
0.417
36
0.42
12
0.49
0.355
36
0.420
42
0.351
44
0.35
14
0.43
0.3
42
0.350
48
0.295
52
0.30
16
0.385
0.25
48
0.297
60
0.246
60
0.252
20
0.30
0.2
55
0.250
65
0.208
72
0.211
24
0.25
0.18
65
0.210
80
0.175
85
0.177
30
0.20
0.15
80
0.177
100
0.147
100
0.152
40
0.15
0.125
100
0.149
115
0.124
120
0.125
50
0.12
0.1
120
0.125
150
0.104
150
0.105
60
0.10
0.09
145
0.105
170
0.088
170
0.088
70
0.088
0.075
170
0.088
200
0.074
200
0.076
80
0.075
0.063
200
0.074
230
0.062
240
0.065
100
0.06
0.05
250
0.062
270
0.053
0.04
280
0.053
325
0.043
300
0.053
325
0.044
400
0.038

 (2) 其它粒度分析方法
 

當(dāng)今用于超細(xì)粉體粒度檢測(cè)的主要方法的沉降法(包括重力沉降和離心沉降)、激光粒度分析儀、顯微鏡、庫(kù)爾特計(jì)數(shù)器以及用于測(cè)定比表面積的透過(guò)法和BET法。下表所列為這些方法的基本原理、測(cè)定范圍及其主要特點(diǎn)。
 

超細(xì)粉休物料粒度測(cè)定方法

 

方法
儀器名稱
基本原理
測(cè)定范圍mm
特點(diǎn)



移液管法
分散在沉降介質(zhì)中的樣品顆粒,其沉降速度是顆粒大小的函數(shù),通過(guò)測(cè)定分散體因顆粒沉降而發(fā)生的濃度變化,測(cè)定顆粒大小和粒度分布
1~100
儀器便宜,方法簡(jiǎn)單,安德遜液管法應(yīng)用很廣;缺點(diǎn)是測(cè)定時(shí)間長(zhǎng),分析,計(jì)算的工作量較大
比重計(jì)法
利用比重計(jì)在一定位置所示懸濁液比重隨時(shí)間的變化沒(méi)測(cè)定粒度分布
1~100
儀器便宜,方法簡(jiǎn)單,但測(cè)定過(guò)程工作量較大
濁定法
利用光過(guò)法或X射線透過(guò)法測(cè)定因分散體濃度就引起的濁度變化,測(cè)定樣品的粒度和粒度分布
0.1~100
自動(dòng)測(cè)定,數(shù)據(jù)不而處理便可得到分布曲線,可用于在線粒度分析
天平法
通過(guò)測(cè)定已沉降下來(lái)的顆粒的累積重量測(cè)定粒度和粒度分布
0.1~150
自動(dòng)測(cè)定和自動(dòng)記錄,但儀器較貴,測(cè)定小顆粒誤差較大



 
在離心力場(chǎng)中,顆粒沉降也服從斯托克斯定律,利用圓般離心機(jī)使顆粒沉降,測(cè)定分散體的濃度變化;或者使樣品在空氣介質(zhì)離心力場(chǎng)中分級(jí),從而得到粒度大小和粒度分布
0.01~30
測(cè)定速度快、是超細(xì)粉體顆粒的基本粒度測(cè)定方法之一,可得到顆粒大小和粒度分布,是較先進(jìn)的測(cè)定方法之一,用途廣泛
庫(kù)爾特計(jì)數(shù)器
 
懸浮在電解液中的顆粒通過(guò)一小孔時(shí),由于排出了一部分電解液而使液體電阻發(fā)生變化,迷種變化是顆粒大小的函數(shù),電子儀器自動(dòng)記錄下粒度分豈有此理
0.4~200
速度快,精度高,統(tǒng)計(jì)性好,完全自動(dòng)化,近年來(lái)應(yīng)用較廣,可得到顆粒粒度和粒度分布
激光粒度分析儀
 
根據(jù)夫瑯和費(fèi)衍射光用射原理測(cè)定顆粒粒度及粒度分布
0.05~3000
自動(dòng)化程度高、操作簡(jiǎn)單、測(cè)定速度快、重復(fù)性好,可用于在線粒度分析

顯微鏡
 
光學(xué)顯微鏡
把樣品分散在一定的分散液中制取樣片,測(cè)顆粒影像,將所測(cè)顆粒按大小分級(jí),便可求出以顆粒個(gè)數(shù)為其準(zhǔn)的粒度分布
1~100
直觀性好,可觀察顆粒形狀,但分析的準(zhǔn)確性受操作人員主觀因素影響程度大
掃描和透射電子顯微鏡
與光學(xué)顯微鏡方法相似,用電子束代替光源,用磁鐵代替玻璃鏡。顆粒用顯微鏡照片顯示出來(lái)
0.001~100
測(cè)定亞微米顆粒襪度分布和顆粒開(kāi)頭的基本方法,廣泛用于科學(xué)研究,儀器較貴,需專人操作
比表面積測(cè)定儀
透過(guò)法
把樣品壓實(shí),通過(guò)測(cè)定空氣浪過(guò)樣品時(shí)的阻力,用柯境尼-卡曼理論計(jì)算樣品的比表面積,引入形狀系數(shù),可換算成平均粒徑
0.01~100
儀器簡(jiǎn)單,測(cè)定迅速,再現(xiàn)性好,但不能測(cè)定粒度分布數(shù)據(jù)。另外,測(cè)定時(shí)樣品一定要壓實(shí)
BET法
根據(jù)BET吸附方程式,用測(cè)定的氣體吸附量求比表面積,引入形狀系數(shù),可換算成平均粒徑
0.003~3
這是常用的比表面積測(cè)定方法,再現(xiàn)性好,精度較高,但數(shù)據(jù)處理較復(fù)雜


 

來(lái)源:中國(guó)粉體技術(shù)網(wǎng)

 


 
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